Materialversagen beginnt oft auf Mikroebene – dort, wo klassische Prüfverfahren an ihre Grenzen stoßen. Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) schließt genau diese Lücke: Sie liefert detaillierte Einblicke in Rissursachen, Oberflächenstrukturen und Werkstofffehler, die mit Lichtmikroskopie nicht oder nur unzureichend sichtbar wären.
REM nutzt einen feinen Elektronenstrahl, um Materialoberflächen in extrem hoher Auflösung abzutasten. Dabei entstehen kontrastreiche Bilder mit einer Auflösung im Nanometerbereich – ideal für die gezielte Analyse von Schadstellen, Verunreinigungen, Bruchflächen oder Schichtübergängen.
Typische Anwendungen der REM-Analyse:
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- Bruchflächenanalyse: Untersuchung von Rissausbreitung, interkristallinem oder transkristallinem Bruchverhalten
- Verunreinigungsnachweis: Identifikation von Partikeln, Einschlüssen, Ablagerungen oder Fertigungsrückständen
- Korrosions- & Schichtdickenbewertung: Charakterisierung von Passivschichten, Korrosionsstrukturen oder Beschichtungshomogenität
REM ist damit ein unverzichtbares Werkzeug für viele Industriezweige – von der Medizintechnik über die Elektronik bis zum Maschinenbau.
Fazit: Tiefe Einblicke schaffen sichere Entscheidungen
Wenn es darum geht, Fehlerursachen zweifelsfrei zu erkennen oder Materialzustände exakt zu bewerten, liefert die REM-Analyse die nötige mikroskopische Klarheit.
