Rasterelektronenmikroskopie

Hochauflösende Werkstoffanalyse

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) bietet deutlich mehr als nur ein scharfes Bild

Sie ermöglicht hochauflösende Analysen von Materialoberflächen und Mikrostrukturen – weit über die Möglichkeiten klassischer Lichtmikroskope hinaus.

Wir nutzen die REM-Analyse zur genauen Untersuchung von:

    • Bruchflächen,
    • Korrosionszonen
    • Fremdpartikeln
    • und Herstellungsfehlern.

Dabei lassen sich selbst kleinste Strukturanomalien oder Einschlüsse sichtbar machen.

Ob in der Schadensanalyse, bei Verunreinigungsnachweisen oder zur Beurteilung technischer Sauberkeit – mit der REM-Analyse bei SPC erhalten Sie belastbare Ergebnisse für sichere Entscheidungen.

Ihre Vorteile

    • Höchste Auflösung im Nanobereich
      REM ermöglicht ultrascharfe Darstellungen von Oberflächen, Rissen und Strukturen.
    • Zuverlässige Fehleridentifikation
      Klären Sie Schadensmechanismen, Materialverunreinigungen oder Fertigungsfehler gezielt auf.
    • Breite Anwendungsfelder
      Geeignet für Metalle, Kunststoffe, Keramiken, Elektronikbauteile und Beschichtungen.
    • Fundierte Auswertung durch Experten
      Wir liefern nicht nur Bilder, sondern bewerten die Ergebnisse werkstofftechnisch und praxisorientiert.

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